Основы электроники ОЭ2-Н-Р
Основы электроники ОЭ2-Н-Р
настольное исполнение, ручная версия
-
1. НАЗНАЧЕНИЕ
Представляем вашему вниманию новую разработку для оснащения учебных лабораторий и проведения практических занятий по направлению «Электротехника и основы электроники» в высших и средних образовательных учреждениях для профессиональной подготовки инженерно-технического персонала
-
2. ТЕХНИЧЕСКИЕ ХАРАКТЕРИСТИКИПотребляемая мощность, В·А, не более 500
Электропитание:
- от однофазной сети переменного тока
с рабочим нулевым и защитным проводниками
напряжением, В 220 ± 22
- частота, Гц 50 ± 0,5
Класс защиты от поражения электрическим током I
Габаритные размеры, мм, не более
- длина (по фронту) 625
- ширина (ортогонально фронту) 500
- высота 400
Масса, кг, не более 15
Количество человек, которое одновременно и активно может работать на комплекте 2 -
3. КОМПЛЕКТНОСТЬБлок генераторов напряжений с наборным полем – 1 шт.
Однофазный источник питания – 1 шт.
Блок испытания цифровых устройств – 1 шт.
Блок мультиметров (2 мультиметра) – 1 шт.
Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
Набор миниблоков "Аналоговая электроника - Электрические компоненты" – 1 шт.
Набор миниблоков "Аналоговая электроника - Электронные компоненты" – 1 шт.
Рама настольная одноуровневая с контейнером (длина 910 мм) – 1 шт.
Набор аксессуаров для комплекта ОЭ1-Н-Р – 1 шт.
Осциллограф двухканальный – 1 шт.
Мультиметр Mastech MY65 – 1 шт.
Набор миниблоков «Основы цифровой техники» – 1 шт.
Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
Руководство по выполнению базовых экспериментов "Основы аналоговой электроники"
Руководство по выполнению базовых экспериментов «Основы цифровой техники»
Сборник руководств по эксплуатации компонентов аппаратной части комплекта ОЭ2-Н-Р -
4. ПЕРЕЧЕНЬ ЛАБОРАТОРНЫХ РАБОТ
1. Полупроводниковые приборы.
1.1. Исследование характеристик полупроводниковых диодов на постоянном и переменном токах.
1.2. Определение основных характеристик стабилитрона и исследование параметрического стабилизатора напряжения.
1.3. Экспериментальное снятие вольтамперной характеристики светодиода.
1.4. Исследование диода с переменной ёмкостью (варикапа).
1.5. Испытание p-n переходов биполярного транзистора и снятие его выходных характеристик с помощью осциллографа.
1.6. Снятие статических характеристик транзистора на постоянном токе.
1.7. Выбор рабочей точки биполярного транзистора и ознакомление с режимами усиления переменного напряжения классов A, B, AB и D.
1.8. Снятие статических характеристик полевого транзистора с p-n переходом.
1.9. Снятие статических характеристик полевого транзистора с изолированным затвором и индуцированным каналом.
1.10. Экспериментальное определение основных характеристик тиристоров.
1.11. Экспериментальное определение основных характеристик и параметров оптопар.
2. Электронные цепи и микросхемотехника.
2.1. Сравнительное исследование одиночных усилительных каскадов на биполярных транзисторах.
2.2. Исследование усилительных каскадов на полевых транзисторах.
2.3. Исследование двухкаскадного транзисторного усилителя.
2.4. Исследование двухтактного усилителя мощности на биполярных транзисторах.
2.5. Исследование основных схем включения операционного усилителя.
2.6. Снятие частотных характеристик операционного усилителя.
2.7. Исследование схем суммирования, интегрирования и дифференцирования на операционном усилителе.
2.8. Экспериментальное определение характеристик RC-фильтров на операционном усилителе.
2.9. Исследование простейшего логарифмирующего преобразователя на операционном усилителе.
2.10. Исследование генератора синусоидальных колебаний на операционном усилителе.
2.11. Знакомство с принципом действия триггера Шмидта и релаксационных генераторов на операционном усилителе.
2.12. Знакомство с работой RS-триггера, мультивибратора и одновибратора на транзисторах.
2.13. Исследование аналоговых интегральных компараторов и цепей с ними.
2.14. Исследование аналогового таймера на интегральной микросхеме в автоколебательном и ждущем режимах.
2.15. Исследование генератора напряжений специальной формы (функционального генератора) на интегральной микросхеме.
3. Стабилизаторы и вторичные источники питания.
3.1. Исследование однополупериодной и мостовой схем выпрямления.
3.2. Исследование трёхфазной мостовой схемы выпрямления и сглаживающих фильтров.
3.3. Знакомство с принципом построения управляемых выпрямителей и тиристорных регуляторов с фазовым управлением.
3.4. Исследование компенсационных стабилизаторов напряжения и тока.
3.5. Испытание основных схем включения линейного интегрального стабилизатора напряжения.
3.6. Знакомство с принципом действия широтно-импульсного преобразователя постоянного напряжения.
3.7. Исследование интегрального импульсного преобразователя-стабилизатора напряжения с частотно-импульсной модуляцией.
Основы цифровой электроники
1. Тестирование базовых логических элементов.
2. Сборка и тестирование простейших комбинационных узлов цифровых устройств.
2.1. Комбинационный узел на основе базовых логических элементов для реализации произвольной логической функции.
2.2. Комбинационные узлы на основе базовых логических элементов для экспериментального подтверждения законов алгебры логики.
2.3. Одноразрядные полусумматор и сумматор.
2.4. Преобразователь кода и дешифратор.
2.5. Мультиплексор и демультиплексор.
3. Сборка и тестирование последовательностных узлов цифровых устройств.
3.1. Триггеры
3.2. Счетчики.
3.3. Регистры.
4. Сборка и тестирование цифро-аналоговых преобразователей.
4.1. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по току.
4.2. Цифро-аналоговый преобразователь с выходом по напряжению.
4.3. Схемы сравнения кодов.
4.4. Широтно-импульсный модулятор.
5. Сборка и тестирование аналого-цифровых преобразователей.
5.1. Аналоговый компаратор.
5.2. Аналого-цифровой преобразователь развертывающего преобразования.
5.3. Аналого-цифровой преобразователь следящего преобразования.
5.4. Аналого-цифровой преобразователь последовательного приближения.
6. Сборка и тестирование одновибраторов и мультивибраторов.
6.1. Тестирование микросхемы К155АГ3 в режиме одновибратора и мультивибратора.
6.2. Тестирование таймера в режиме одновибратора и мультивибратора.
7. Сборка и тестирование ОЗУ и ПЗУ.
8. Сборка и тестирование схемы контроля четности.
9. Исследование схемотехники логических элементов.
9.1. Логический элемент 2И-НЕ.
9.2. Логический элемент 2И-НЕ с открытым коллектором.
9.3. Логический элемент НЕ.
Наша компания готова предложить своим клиентам, произвести и поставить учебные стенды по электронике и микроэлектронике для ВПО, СПО, НПО.
Мы предлагаем Вашему вниманию стенд, стоимость комплекта
264100 руб. Актуальные цены уточняйте у менеджеров.
Мы готовы как к осуществлению поставки оборудования, так и к полному формированию проекта, подготовке всей необходимой документации и укомплектованию лабораторию «под ключ». Наша компания на практике подтверждает свою мобильность и надежность. Качество учебных и лабораторных стендов находится на высоком уровне, вся продукция проходит ОТК. Оборудование производится в нужные для Вас сроки и по доступной цене.
Нашими клиентами уже стали сотни университетов, техникумов, колледжей и училищ по всей России и странам ближнего зарубежья.
Стенды из раздела:
Основы электроники ОЭ1-Н-Р
247500.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
"Физические основы электроники" ФОЭ1-С-Р
180000.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
Электротехника и основы электроники ЭОЭ1-Н-К
678300.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
Электротехника и основы электроники ЭОЭ1-С-К
1383800.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
1383800.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
"Электротехника и основы электроники" ЭОЭ4-С-Р
372800.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
372800.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
Основы цифровой техники ОЦТ1-Н-Р
88900.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год
88900.00 RUB
Цена данного комплекса актуальна на 2022 год